EXFO(爱斯福) CTP10 - 无源光器件测试平台
CTP10
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产品说明
产品介绍
EXFO(爱斯福) CTP10是一种模块化测量平台，可高效地全天候测试无源器件。通过它，您能够以前所未有的动态范围、速度和分辨率执行插损（IL）、偏振相关损耗（PDL）或回损（RL）测量。EXFO(爱斯福) CTP10是测量高速WDM网络中的新型大端口数光器件和和光子集成电路（PIC）的理想设备。它可以结合EXFO(爱斯福) T100S-HP系列扫频可调谐激光器，在几秒钟内完成IL-RL或IL-PDL测量。
产品优势
下一代平台和模块
EXFO(爱斯福) CTP10平台可安装多达10个热插拔模块，包括用于光谱鉴定的各种关键模块（IL-RL OPM2或IL-PDL模块）、波长控制模块（SCAN SYNC和FBC模块）以及检测模块（OPMx模块）。这些完全集成的模块可以热插拔，从而大大减少设置时间，并提供一个非常灵活、不断发展的测试解决方案。
EXFO(爱斯福) CTP10内置操作系统，可处理大量的数据。它还提供一个可扩展的架构，由8个测试站共享一个或多个可调谐激光器，并添加一个辅助主机，以测试100多个端口。
性能强劲
EXFO(爱斯福) CTP10可进行非常迅速的扫频IL RL或PDL光谱测量。它提供不折不扣的高性能，并在全速测试时达到一流的规格要求。OPMx免测距系列光检测器能够以100 nm/s的速率、1 pm的分辨率进行扫描，测量的动态范围超过70 dB，从而大幅提高制造和研发能力。OPMx检测器还可以精确测量高达10 dB/pm（10000 dB/nm）的清晰光谱特征，使EXFO(爱斯福) CTP10成为未来测量波长可选择开关（WSS）或环形谐振器等下一代器件的可靠工具。
GUI强大直观
EXFO(爱斯福) CTP10围绕三个关键原则被开发出来：集成、性能和自动化。其内置软件提供强大、直观的GUI，从而简化测试配置和测量过程。EXFO(爱斯福) CTP10可无缝地控制外接可调谐激光器，让您专注于真正重要的事情：测量和分析数据。GUI集成了一整套工具以分析通带（如WDM或WSS）和阻带滤波器。
主要特点
应用
EXFO(爱斯福) CTP10是一种模块化测量平台，可高效地全天候测试无源器件。通过它，您能够以前所未有的动态范围、速度和分辨率执行插损（IL）、偏振相关损耗（PDL）或回损（RL）测量。EXFO(爱斯福) CTP10是测量高速WDM网络中的新型大端口数光器件和和光子集成电路（PIC）的理想设备。它可以结合EXFO(爱斯福) T100S-HP系列扫频可调谐激光器，在几秒钟内完成IL-RL或IL-PDL测量。
产品优势
下一代平台和模块
EXFO(爱斯福) CTP10平台可安装多达10个热插拔模块，包括用于光谱鉴定的各种关键模块（IL-RL OPM2或IL-PDL模块）、波长控制模块（SCAN SYNC和FBC模块）以及检测模块（OPMx模块）。这些完全集成的模块可以热插拔，从而大大减少设置时间，并提供一个非常灵活、不断发展的测试解决方案。
EXFO(爱斯福) CTP10内置操作系统，可处理大量的数据。它还提供一个可扩展的架构，由8个测试站共享一个或多个可调谐激光器，并添加一个辅助主机，以测试100多个端口。
性能强劲
EXFO(爱斯福) CTP10可进行非常迅速的扫频IL RL或PDL光谱测量。它提供不折不扣的高性能，并在全速测试时达到一流的规格要求。OPMx免测距系列光检测器能够以100 nm/s的速率、1 pm的分辨率进行扫描，测量的动态范围超过70 dB，从而大幅提高制造和研发能力。OPMx检测器还可以精确测量高达10 dB/pm（10000 dB/nm）的清晰光谱特征，使EXFO(爱斯福) CTP10成为未来测量波长可选择开关（WSS）或环形谐振器等下一代器件的可靠工具。
GUI强大直观
EXFO(爱斯福) CTP10围绕三个关键原则被开发出来：集成、性能和自动化。其内置软件提供强大、直观的GUI，从而简化测试配置和测量过程。EXFO(爱斯福) CTP10可无缝地控制外接可调谐激光器，让您专注于真正重要的事情：测量和分析数据。GUI集成了一整套工具以分析通带（如WDM或WSS）和阻带滤波器。
主要特点
- 扫频测量插损（IL）、偏振相关损耗（PDL）或回损（RL）
- 支持全波段PDL测量，覆盖从1260 nm到1620 nm的波长
- 以100 nm/s的速度进行单次扫描，动态范围>70 dB，精度为±5 pm，分辨率为1 pm
- 配备强大的图形用户界面（GUI），内置先进的分析功能
- 通过SCPI命令实现全自动化操作
- 采用可扩展的架构，适用于研发和制造环境
应用
- PIC晶圆级测试
- 制造和研发环境中的多输入无源光器件测试
- WSS和ROADM校准与测试
- 薄膜滤波器（TFF）鉴定
