EXFO(爱斯福) CT440/440-PDL - 无源元器件测试仪
CT440/440-PDL
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产品说明
产品介绍
EXFO(愛斯福) 的CT440可让您快速而准确地测试被动光学元件（例如MUX / DEMUX，滤波器，分离器）和模块（ROADM，WSS）。更重要的是，该装置涵盖了从1240到1680 nm的光谱范围，可以在整个电信频段上进行测量。使用PDL选件，EXFO(愛斯福) CT440可以同时测量插入损耗和偏振相关损耗。
产品优势
全频带扫描
EXFO(愛斯福) CT440（SMF型号）可以在1240至1680 nm之间工作，并与EXFO(愛斯福) 的T100S-HP系列可调雷射完全兼容。当使用多个TLS时，EXFO(愛斯福) CT440可以自动在雷射之间切换，以实现无缝的全频带测量。与DUT的单连接意味著不需要外部开关。
快速插入损耗测量
EXFO(愛斯福) CT440具有高速电子技术和光学干涉测量技术的独特结合。四个集成的检测器使您可以在一次雷射扫描中同时测量动态范围为65 dB的四个通道。此外，在任何扫描速度下都可实现±5 pm的波长精度，因此在测量速度和精度之间没有任何抵触。
准确的插入损耗测量
EXFO(愛斯福) CT440是一种经济高效的解决方案，不会影响性能。凭借其监控光电探测器，可调的采样分辨率，出色的波长精度和内置的波长计，当与可调雷射源和PC相连时，它可以在一个盒子中提供准确测量所需的一切。
主要特点
应用
EXFO(愛斯福) 的CT440可让您快速而准确地测试被动光学元件（例如MUX / DEMUX，滤波器，分离器）和模块（ROADM，WSS）。更重要的是，该装置涵盖了从1240到1680 nm的光谱范围，可以在整个电信频段上进行测量。使用PDL选件，EXFO(愛斯福) CT440可以同时测量插入损耗和偏振相关损耗。
产品优势
全频带扫描
EXFO(愛斯福) CT440（SMF型号）可以在1240至1680 nm之间工作，并与EXFO(愛斯福) 的T100S-HP系列可调雷射完全兼容。当使用多个TLS时，EXFO(愛斯福) CT440可以自动在雷射之间切换，以实现无缝的全频带测量。与DUT的单连接意味著不需要外部开关。
快速插入损耗测量
EXFO(愛斯福) CT440具有高速电子技术和光学干涉测量技术的独特结合。四个集成的检测器使您可以在一次雷射扫描中同时测量动态范围为65 dB的四个通道。此外，在任何扫描速度下都可实现±5 pm的波长精度，因此在测量速度和精度之间没有任何抵触。
准确的插入损耗测量
EXFO(愛斯福) CT440是一种经济高效的解决方案，不会影响性能。凭借其监控光电探测器，可调的采样分辨率，出色的波长精度和内置的波长计，当与可调雷射源和PC相连时，它可以在一个盒子中提供准确测量所需的一切。
主要特点
- 快速测量变化函数
- 波长范围为1240-1680 nm（SMF型号）
- PM和PDL选件
- 波长分辨率为1-250 pm
- 波长精度为±5 pm
- 单次扫描的动态范围为65 dB
- 可结合4个可调谐激光器（SMF型号）
- 配备四个内部检测器，可通过同步进行扩展
应用
- 光子集成电路（PIC）测试
- 波长选择开关测试
- 滤光片测试
